KF8F2020SB为哈佛结构的精简指令CPU。在这种结构中，程序和数据总线是相互独立的。指令字节长度为16位，大多数指令能在一个机器周期内执行完成。一共有68条指令，效率高，容易进行指令扩展。芯片内集成了多种外设，包括1个8位定时器/计数器T0、1个16位定时器/计数器T1、1个8位定时器T2、2路8位PWM模块、1个12位8通道AD 模块、2个模拟比较器模块、硬件看门狗和低电压检测及低电压复位模块等。芯片内集成了 272×8位的数据存储器RAM和2K×16位的程序存储器。

特性

• CPU

– 高性能哈佛结构的RISC CPU

– 68条精简指令支持中断处理，共14个中断源

– 复位向量位于0000H，中断向量位于0004H

– 工作频率为31.25kHz～8MHz，软件可选

• 存储器

– 2K×16 位 FLASH程序存储器

– 272×8位的数据存储器

– 工作寄存器组R0～R7

– FLASH可经受100 000次写操作

• 特殊功能

– 内嵌上电复位电路

– 低电压检测及低电压复位

– 低功耗低电压检测及复位电路

– 硬件看门狗

– 时钟精度8MHz±1%(常温)

– 支持在线串行编程

– 低功耗休眠模式

– 带校准的内部低频振荡器

• I/O口配置

– 输入输出口：P0/P1口均为双向口

– 内置上拉功能：P0/P1口均带有弱上拉功能

– 电平变化中断：P0口均有电平变化中断功能

– 数字输入电平类型：SMIT

• 定时器/计数器

– 定时器0：带有8位预分频器的8位定时器/计数器

– 定时器1：带门控和预分频器的16位定时器/计数器

– 定时器2：带8位周期寄存器、预分频器和后分频器的8位定时器

• 其它外设

– 2路8位脉宽调制PWM模块

– 1路10位增强型脉宽调制PWM模块

– 1个8路12位ADC模块

– 2个模拟比较器模块

• 工作条件

– 工作电压：1.8V~5.5V

– 工作温度范围：-40℃～85℃(工业级)；-40℃～125℃(扩展级)

系统框图

昂科技术自主研发的AP8000万用烧录器，已成为行业内具有标杆意义的专业烧录解决方案。该设备支持灵活可调的一拖一及一拖八配置模式，并提供在线、离线双工作模式，尤其针对eMMC、UFS等存储芯片开发了专属烧录方案，可全面覆盖芯旺微全系列芯片的裸片离线烧录与在板烧录需求。AP8000采用主机、底板、适配座三大核心模块的创新模块化设计，赋予设备出色的兼容性与扩展能力。作为通用型烧录平台，其不仅能适配市场上各类可编程芯片，更以稳定高效的性能表现，成为昂科自动化批量烧录设备IPS5800S的核心组件，可高效处理大规模芯片烧录任务，满足量产需求。

AP8000主机具备灵活的连接方式，同时配备USB和NET接口，可实现多台编程器的便捷组网。通过组网功能，用户能够轻松实现多台编程器的同步控制，高效开展并行烧录作业。在安全性方面，主机内置智能安全保护电路，可实时监测芯片放置状态与电路连接情况，一旦检测到芯片反插、短路等异常，将立即触发断电保护机制，全方位守护芯片和编程器的安全运行。主机内部搭载高速FPGA芯片，大幅提升数据传输与处理效率，确保烧录过程流畅高效。为增强使用便捷性，主机背部设置SD卡槽，用户只需将PC端生成的工程文件存储至SD卡，并插入卡槽，即可通过编程器实体按键完成文件选择、加载与烧录操作，实现脱离PC的独立运行。这一设计不仅降低了对计算机硬件配置的依赖，还简化了工作环境搭建流程，显著提升操作灵活性。

在扩展性与兼容性上，AP8000采用底板与适配板模块化组合设计，有效拓展主机功能边界。目前，该设备已实现对全主流半导体厂商产品的支持，覆盖ADVCHIP, RICHTEK, indiemicro, Fortior Tech, YUNTU等知名品牌。其支持器件类型广泛，涵盖NAND, NOR, MCU, CPLD, FPGA, EMMC等，并全面兼容Intel Hex, Motorola S, Binary, POF等多种行业标准文件格式，为用户提供一站式、全场景的芯片烧录解决方案。

关于芯旺微电子：芯旺微电子（ChipOn）是一家基于自主研发的 KungFu指令集和内核架构，以研发高性能数模混合信号MCU产品为主的芯片设计公司，同时向用户提供完整软硬件工具链系统，实现了从MCU芯片到基础软件生态的全覆盖。芯旺微电子集高可靠、低功耗、高性能之大成，聚焦向汽车、工业、AloT等领域提供专业解决方案和优质服务。

关于昂科技术：昂科技术（ACROVIEW）是研发、生产和销售半导体芯片测试及烧录设备的国家级专精特新“小巨人”企业，公司致力于通过创新的半导体测试技术及解决方案，赋能Fabless、IDM、OSAT、晶圆Fab和终端设备企业等全产业链客户。昂科首创的全自动老化测试ABI（Auto Burn-In）系统极大地提升了客户芯片的老化测试效率和降低Per DUT测试成本。同时还为客户提供从PSV、CP、FT、ABI、SLT、烧录各个阶段的设备产品及方案，我们将产品技术的领先优势、系统级专业知识、和全球布局的研发及销售服务网络完美融合，为客户在市场竞争中取得领先创造价值。